X-RAY Tomography in Material Science (Broché)
- Livres ingénierie
- José Baruchel, Jean-Yves Buffière, Eric Maire
Format
Broché
Date de parution
15/03/2000
Editeur
Lavoisier-Hermès
Compte-rendu des travaux effectués lors d'un atelier réunissant des chercheurs européens. Description globale de la tomographie aux rayons-X, introduction aux algorithmes de reconstruction, examen de l'intérêt des sources synchrotron de rayons-X, axé sur les images à contraste de phase. Exemples d'études de matériaux de microstructure hétérogène par tomographie-X.
| Auteur(s) | José Baruchel, Jean-Yves Buffière, Eric Maire |
|---|---|
| EAN | 9782746201156 |
| Catégorie produits | techniques_et_sciences_appliquees |
| Rayon | Livre|Savoirs|Sciences et techniques|Ingénierie |
| Titre de l'œuvre | X-ray tomography in material science |
| Format | Broché |
| Date de parution | 15/03/2000 |
| Nombre de pages | 208 |
| ISBN | 2-7462-0115-1, 978-2-7462-0115-6 |
| Dimensions (cm) | 16 x 24 x 0.9 |
| Editeur | Lavoisier-Hermès |
| Poids du produit | 320 g |
| Libellé | X-RAY Tomography in Material Science (Broché) |
| Thème CLIL | Physique |
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